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相位調製台階陣列微型光譜儀

Summary
相位調製臺階陣列微型光譜儀，包括一個構建在基底(3) 上表面的微型干涉儀二維陣列，每個微型干涉儀設有第一臺階(1) ，第一臺階(1) 在不同的微型干涉儀中高度不同，在基底(3) 的下表面設有 CCD(4) ，在基底(3) 和 CCD(4) 中間有一層遮擋物(7) ；遮擋物(7) 把大部分 CCD 面元遮住，在每一個微型干涉儀下方的遮擋物(7) 上留有透光孔，透光孔的孔徑小于 CCD(4) 所能探測到的入射光波的最小波長，第一臺階的寬度與入射光波波長處于同一量級，第一臺階的最大高度也爲入射光波波長量級，在微型干涉儀二維陣列的上方有兩個共焦的透鏡(6) ，在兩個共焦的透鏡(6) 之間的焦點處的遮光板中有一個小孔(5) 。解决了體積較大、對振動敏感、製作 成本較高、分辨率較低、測量頻帶寬度較窄等技術問題。

Application No.
09/ENG/343
Others
Inventor(s): Professor HO Ho Pui Aaron, Department of Electronic Engineering Patent Status: Chinese Patent Pending Licensing Status: Available for licensing

Country/Region
Hong Kong

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